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FormFactor發表Harmony全區12寸晶圓針測解決方案的最新成員——Harmony晶圓級預燒(Wafer-Level Burn-In，WLBI)探針卡。 Harmony WLBI探針卡能提高作業流量，并且確保半導體元件的品質與可靠度。 Harmony WLBI探針卡一次能接觸約4萬個測試焊墊，還能在高溫(最高130℃)下測試整片12寸晶圓。

Harmony WLBI探針卡結合各種電子元件以及新型3DMEMS MicroSpring接觸器，能承受高溫的預燒測試，降低清理次數，提高探針卡的可用度以及測試元件的生產力。 FormFactor專利技術可以增加同時測試晶粒的數量，運用現有的測試設備資源。

Harmony WLBI是FormFactor確保合格裸晶(known good die，KGD)專屬探針卡解決方案的一個重要元件，這類元件必須進行測試、確定符合規格后才能進行封裝。確保合格裸晶的應用范例包括手機與便攜式媒體播放器，這類產品會把多種元件整合至一個系統級封裝(SiP)芯片或多芯片封裝(MCP)。